826 umożliwia szybkie, precyzyjne i proste kontrolowanie płytek wzorcowych europejskich i amerykańskich (US) o długościach do 170 mm wg ISO 3650.
Opis:
Stanowisko 826 PC do kontroli płytek wzorcowych jest szybkie, niezawodne i ma wysoką dokładność. Przy pomiarach porównawczych osiągana jest powtarzalność ±0,01 μm.
Otwarty i sztywny statyw w kształcie litery L stanowi podstawę dla dwóch przeciwbieżnie pracujących, precyzyjnych czujników indukcyjnych i dokładnie płaskiego stolika pomiarowego.
Długą pracę przy dużej koncentracji umożliwia proste manipulowanie przy pozycjonowaniu płytek referencyjnej i mierzonej na stoliku pomiarowym.
Otwarta budowa korpusu zapewnia wizualny kontakt z przestrzenią roboczą podczas kontroli: operator ma przebieg procesu
kontroli stale przed oczami, co przyczynia się do wysokiej indywidualnej niezawodności procesu kontroli.
Profesjonalne oprogramowanie pomiarowo-oceniające spełnia wszelkie wymogi wewnątrzzakładowej kontroli płytek, laboratoriów kalibracyjnych i producentów płytek wzorcowych.
Cechy:
• Stabilne temperaturowo niewrażliwe na wpływy cieplne dzięki sztywnemu statywowi z żeliwa
• Szybko przestawne sanki pionowe z czujnikiem górnym
• Ergonomiczna i wygodna obsługa jedną ręką przy umieszczaniu płytek wzorcowych pod czujnikiem pomiarowym
• Precyzyjne nastawianie (zerowanie) za pomocą precyzera (sztywnego równoległoboku sprężyn)
• Elektropneumatyczne odsuwanie czujników przy zmianie płytki
• Przesuwanie manipulatora bez zacięć dzięki precyzyjnym prowadnicom kulkowym
• Nie ma oddziaływania siły ręki operatora na pomiar
• Łatwość przesuwania kontrolowanych płytek wzorcowych po stoliku dzięki zaokrąglonym prętom podporowym z węglika
• Przeliczanie nastawionej wartości z uwzględnieniem zapamietanego wymiaru rzeczywistego płytki referencyjnej, nie jest więc konieczne nastawianie punktu zerowego
• Korekcja spłaszczenia końcówek czujników (nacisk Hertz'a)
• Korekcja współczynników rozszerzalności materiałów płytek
• Obliczanie wartości średniej
Dane techniczne:
Zakres zastosowania: 0,5 mm do 170 mm
Użyteczna powierzchnia stolika: 60 mm x 55 mm
Powtarzalność: ± 0,01 μm
Promień końc. czujnika górnego: 1,5 mm
Promień końc. czujnika dolnego: 1,5 mm
Bezpośredni zakres pomiarowy: 0,2 mm
Masa: 37 kg